对于一个 HAL 接口,可能有多个实现。要测试 HAL 实现的每个实例,标准方法是编写一个值参数化的 gtest 。
基本测试设置
gtest 必须继承基类testing::TestWithParam
,其中参数是每个实例的名称。在SetUp
方法中,可以根据实例名称实例化服务,如下面的代码片段所示。
// The main test class for the USB hidl HAL
class UsbHidlTest : public testing::TestWithParam<std::string> {
virtual void SetUp() override {
usb = IUsb::getService(GetParam());
ASSERT_NE(usb, nullptr);
...
}
对于每种测试方法,使用宏TEST_P
,如下例所示。
TEST_P(UsbHidlTest, setCallback) {
...
}
使用宏INSTANTIATE_TEST_SUITE_P
实例化套件,如下例所示。
INSTANTIATE_TEST_SUITE_P(
PerInstance, UsbHidlTest,
testing::ValuesIn(android::hardware::getAllHalInstanceNames(IUsb::descriptor)),
android::hardware::PrintInstanceNameToString);
论据是:
InstantiationName
,可以是与您的测试匹配的任何内容。PerInstance
是一个通用名称。测试类名称。
实例名称的集合,可以从内置方法中检索,例如
getAllHalInstanceNames
。打印测试方法名称的方法。
PrintInstanceNameToString
是一个内置名称,可用于根据实例名称和测试方法名称编译测试名称。
使用多个输入进行测试
gtest 支持用于值参数化测试的元组。当 HAL 测试需要使用多个输入进行测试时(例如,具有多个接口的测试),您可以编写一个以tuple
作为测试参数的 gtest。完整的代码可以在VtsHalGraphicsMapperV2_1TargetTest
中找到。
相比于单一测试参数的 gtest,本次测试需要使用tuple
作为测试参数,如下例所示。
class GraphicsMapperHidlTest
: public ::testing::TestWithParam<std::tuple<std::string, std::string>> {
protected:
void SetUp() override {
ASSERT_NO_FATAL_FAILURE(mGralloc = std::make_unique<Gralloc>(std::get<0>(GetParam()),
std::get<1>(GetParam())));
…
}
如果需要更复杂的参数,建议使用结构体和自定义 gtest ToString
函数。
为了实例化测试套件,还使用了宏INSTANTIATE\_TEST\_CASE\_P
,但有两个不同之处:
- 第三个参数是元组的集合(相对于基本情况下的字符串集合)。
- 编译测试名称的方法需要支持
tuple
。您可以使用内置方法PrintInstanceTupleNameToString
,它可以处理字符串元组,如下例所示。
INSTANTIATE_TEST_CASE_P(
PerInstance, GraphicsMapperHidlTest,
testing::Combine(
testing::ValuesIn(
android::hardware::getAllHalInstanceNames(IAllocator::descriptor)),
testing::ValuesIn(android::hardware::getAllHalInstanceNames(IMapper::descriptor))),
android::hardware::PrintInstanceTupleNameToString<>);